EL発光検査とは、太陽電池モジュールの製造工程での検査でも使用されている検査です。
太陽電池モジュールに強制的に電流を流して発光させ、特殊カメラで撮影し検査を行います。シリコン結晶や電極に不具合があればEL発光の強度が低下し、画像に明暗で表示されます。マイクロクラック、PID現象、インターコネクタの断線など、目視で確認することの出来ない劣化や不具合を可視化します。
弊社が採用しているEL検査装置(エプティフ)は、日中太陽光発電システムの設置現場で太陽電池モジュールを取り外すことなく検査することが可能です。
その為、検査時間・費用を大幅に削減することを実現しました。
PID現象
バイパスダイオードの短絡
セルのクラック
セルのショート
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